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A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
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Coleção Digital
Título: SEMICONDUCTOR NANOSTRUCTURE FABRICATION IN MECHANICAL DEFECTS PRODUCED BY ATOMIC FORCE MICROSCOPY Autor: HENRIQUE DUARTE DA FONSECA FILHO
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Colaborador(es):
RODRIGO PRIOLI MENEZES - ADVISOR
Nº do Conteudo: 12973
Catalogação: 23/01/2009 Idioma(s): PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo: TEXT Subtipo: THESIS
Natureza: SCHOLARLY PUBLICATION
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12973@1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12973@2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.12973
Resumo:
Título: SEMICONDUCTOR NANOSTRUCTURE FABRICATION IN MECHANICAL DEFECTS PRODUCED BY ATOMIC FORCE MICROSCOPY Autor: HENRIQUE DUARTE DA FONSECA FILHO
Nº do Conteudo: 12973
Catalogação: 23/01/2009 Idioma(s): PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo: TEXT Subtipo: THESIS
Natureza: SCHOLARLY PUBLICATION
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12973@1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12973@2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.12973
Resumo:
The combination of high density, site selective nucleation,
and size
distribution control of semiconductor nanostructures has
become a challenge in the
development of effective optical and electronic devices. In
order to build structures
satisfying these requirements, various combinations of
quantum dot deposition and
nanolithography techniques have been developed. The AFM
nanolithography
technique has been applied on several materials opening a
possibility to fabricate
opto-electronic devices. In this Phd Thesis, we present a
systematic study of
growth of InAs nanostructures on pits produced on (100) InP
by nanoindentation
with the AFM. For that purpose, the AFM tip needs to exert
a force on the InP that
produces plastic deformation on the surface. The applied
pressure between the very
end of the AFM tip and the sample surface may be varied in
a controlled way by
adjusting some of the microscope operational parameters
like set point, tip radius
and cantilever normal bending constant. The ability to
control the shape of the
indentation pattern as well as the nature of the
crystalline defects allows control of
the selective growth of InAs by metal organic vapor phase
epitaxy. We also report
the fabrication of one-dimensional arrays of InAs/InP
nanostructures. The
nanoindentation is produced by dragging the AFM tip under
constant force of the
substrate, along the <100> and <110> InP crystallographic
directions. We have
observed that the number and the size of nucleated
nanostructures are dependent on
the distance between the lithographed lines. These results
suggest that the growth
mechanism of the InAs nanostructures on the pits produced
by AFM on InP is not
governed by the number of atomic steps generated during the
scratching. Instead,
the data suggests that, the density of mechanically induced
defects, like dislocations
and cracks, are responsible for the number of nucleated
nanostructures.
Descrição | Arquivo |
COVER, ACKNOWLEDGEMENTS, RESUMO, ABSTRACT, SUMMARY AND LISTS | |
CHAPTER 1 | |
CHAPTER 2 | |
CHAPTER 3 | |
CHAPTER 4 | |
CHAPTER 5 | |
CHAPTER 6 | |
REFERENCES AND APPENDICES |