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A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
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Coleção Digital
Título: LOW COHERENCE OPTICAL REFLECTOMETRY Autor: JOSE AUGUSTO PEREIRA DA SILVA
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Colaborador(es):
JEAN PIERRE VON DER WEID - ADVISOR
Nº do Conteudo: 8655
Catalogação: 10/07/2006 Idioma(s): PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo: TEXT Subtipo: THESIS
Natureza: SCHOLARLY PUBLICATION
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655@1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655@2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8655
Resumo:
Título: LOW COHERENCE OPTICAL REFLECTOMETRY Autor: JOSE AUGUSTO PEREIRA DA SILVA
Nº do Conteudo: 8655
Catalogação: 10/07/2006 Idioma(s): PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo: TEXT Subtipo: THESIS
Natureza: SCHOLARLY PUBLICATION
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655@1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655@2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8655
Resumo:
Optical low Coherence Reflectometry has become an
important tool for the characterization of optical and
integrated optoeletronics components of dimensions on the
micrometer scale. This work includes the basic principles
of reflectometry, a detailed study of optical low
coherence reflectometry, a review of the techniques
reported in the literature and a new scheme for the
experimental set-up.
This new scheme has proved to be simpler and more
efficient. In addition the high resolution achieved
allowed the visual observation of the TE and TM
propagation modes in the semiconductior cavity.
| Descrição | Arquivo |
| COMPLETE |
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