$$\newcommand{\bra}[1]{\left<#1\right|}\newcommand{\ket}[1]{\left|#1\right>}\newcommand{\bk}[2]{\left<#1\middle|#2\right>}\newcommand{\bke}[3]{\left<#1\middle|#2\middle|#3\right>}$$
INFORMAÇÕES SOBRE DIREITOS AUTORAIS


As obras disponibilizadas nesta Biblioteca Digital foram publicadas sob expressa autorização dos respectivos autores, em conformidade com a Lei 9610/98.

A consulta aos textos, permitida por seus respectivos autores, é livre, bem como a impressão de trechos ou de um exemplar completo exclusivamente para uso próprio. Não são permitidas a impressão e a reprodução de obras completas com qualquer outra finalidade que não o uso próprio de quem imprime.

A reprodução de pequenos trechos, na forma de citações em trabalhos de terceiros que não o próprio autor do texto consultado,é permitida, na medida justificada para a compreeensão da citação e mediante a informação, junto à citação, do nome do autor do texto original, bem como da fonte da pesquisa.

A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
Coleção Digital

Avançada


Formato DC |



Título: REFLECTOMETRIA ÓPTICA DE BAIXA COERÊNCIA
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Autor(es): JOSE AUGUSTO PEREIRA DA SILVA

Colaborador(es):  JEAN PIERRE VON DER WEID - Orientador
Número do Conteúdo: 8655
Catalogação:  10/07/2006 Idioma(s):  PORTUGUÊS - BRASIL

Tipo:  TEXTO Subtipo:  TESE
Natureza:  PUBLICAÇÃO ACADÊMICA
Nota:  Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]:  https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655@1
Referência [en]:  https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655@2
Referência DOI:  https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8655

Resumo:
Reflectometria óptica de baixa coerência tem se tornado uma importante ferramenta para a caracterização de componentes ópticos e optoeletrônicos integrados, cujas dimensões são micrométricos. Este trabalho inclui os princípios básicos de reflectometria, um estudo aprofundado de reflectometria óptica de baixa coerência, uma revisão das técnicas demonstradas na literatura cientifíca e suas resoluções e, principalmente, uma nova topologia na montagem experimental. Esta nova topologia permite que as mediadas sejam feitas de maneira mais simples e eficaz. A resolução obtida ficou tão boa que permitiu a visualização dos modos de propagação TE E TM na cavidade de um laser semicondutor.

Descrição Arquivo
NA ÍNTEGRA  PDF  
Logo maxwell Agora você pode usar seu login do SAU no Maxwell!!
Fechar Janela



* Esqueceu a senha:
Senha SAU, clique aqui
Senha Maxwell, clique aqui