Título
[en] A STUDY ON THE PRODUCTION AND CHARACTERIZATION OF BORON DOPED SINGLE WALL CARBON NANOTUBES
Título
[pt] PRODUÇÃO E CARACTERIZAÇÃO DE NANOTUBOS DE CARBONO DE PAREDE SIMPLES DOPADOS COM BORO
Autor
[pt] FERNANDO HENRIQUE DO REGO MONTEIRO
Vocabulário
[pt] XPS
Vocabulário
[pt] BORO
Vocabulário
[pt] CVD
Vocabulário
[pt] RAMAN
Vocabulário
[pt] NANOTUBOS DE CARBONO
Vocabulário
[en] XPS
Vocabulário
[en] BORON
Vocabulário
[en] CVD
Vocabulário
[en] RAMAN
Vocabulário
[en] CARBON NANOTUBES
Resumo
[pt] Neste trabalho estudamos a síntese e caracterização de nanotubos de carbono de parede simples dopados com boro, que foram produzidos em diferentes condições, usando um precursor líquido em um sistema CVD de alto vácuo. Para a caracterização comparamos as amostras com outras − de referência sem dopagem − e também usamos microscópios de transmissão e varredura, espectroscopia Raman e espectroscopia por fotoelétrons excitados por raio X (XPS). A microscopia de transmissão e a espectroscopia Raman foram usadas para confirmar a presença de nanotubos de parede simples, enquanto a microscopia de varredura foi usada para identificar em qual faixa de temperatura os nanotubos foram produzidos. Achamos evidências de que as amostras estão dopadas ao compararmos os espectros Raman dos nanotubos com as amostras de referência. Usando os resultados do XPS, determinamos que os nossos tubos estão dopados com boro. Comparando a análise Raman com esses resultados, desenvolvemos uma regra simples para estimar o nível de dopagem a partir de medidas Raman.
Resumo
[en] We studied in this work the synthesis and characterization of boron doped single wall carbon nanotubes. They were produced, at different conditions, using a new liquid precursor in a high vacuum chemical vapour deposition system. In order to characterize the samples we compared them to an undoped reference sample and used a transmission and field emission scanning electron microscopy, Raman spectroscopy and a X-ray photoemission spectroscopy (XPS). The transmission electron microscopy and the Raman spectroscopy were used to confirm the presence of single wall carbon nanotubes, while the scanning electron microscopy was used to identify in which temperature range the tubes were produced. We found evidences that the produced sample were doped by comparing the Raman spectra of the samples with the reference one. By using the XPS, we could determine that our tubes are boron doped. By comparing the Raman analysis with the XPS results, we developed a simple rule to estimate the doping level through Raman measurements.
Orientador(es)
FERNANDO LAZARO FREIRE JUNIOR
Banca
FERNANDO LAZARO FREIRE JUNIOR
Banca
MARCOS ASSUNCAO PIMENTA
Banca
ALDO JOSE GORGATTI ZARBIN
Catalogação
2018-09-28
Apresentação
2012-03-01
Tipo
[pt] TEXTO
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Idioma(s)
INGLÊS
Referência [pt]
https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=35271@1
Referência [en]
https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=35271@2
Referência DOI
https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.35271
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