XINFORMAÇÕES SOBRE DIREITOS AUTORAIS
As obras disponibilizadas nesta Biblioteca Digital foram publicadas sob expressa autorização dos respectivos autores, em conformidade com a Lei 9610/98.
A consulta aos textos, permitida por seus respectivos autores, é livre, bem como a impressão de trechos ou de um exemplar completo exclusivamente para uso próprio. Não são permitidas a impressão e a reprodução de obras completas com qualquer outra finalidade que não o uso próprio de quem imprime.
A reprodução de pequenos trechos, na forma de citações em trabalhos de terceiros que não o próprio autor do texto consultado,é permitida, na medida justificada para a compreeensão da citação e mediante a informação, junto à citação, do nome do autor do texto original, bem como da fonte da pesquisa.
A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
As obras disponibilizadas nesta Biblioteca Digital foram publicadas sob expressa autorização dos respectivos autores, em conformidade com a Lei 9610/98.
A consulta aos textos, permitida por seus respectivos autores, é livre, bem como a impressão de trechos ou de um exemplar completo exclusivamente para uso próprio. Não são permitidas a impressão e a reprodução de obras completas com qualquer outra finalidade que não o uso próprio de quem imprime.
A reprodução de pequenos trechos, na forma de citações em trabalhos de terceiros que não o próprio autor do texto consultado,é permitida, na medida justificada para a compreeensão da citação e mediante a informação, junto à citação, do nome do autor do texto original, bem como da fonte da pesquisa.
A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
Coleção Digital
Título: METROLOGIA, NORMALIZAÇÃO E REGULAÇÃO DE NANOMATERIAIS NO BRASIL: PROPOSIÇÃO DE UM MODELO ANALÍTICO-PROSPECTIVO Autor: ANA RUSMERG GIMÉNEZ LEDESMA
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Colaborador(es):
MARIA FATIMA LUDOVICO DE ALMEIDA - ORIENTADOR
FERNANDO LAZARO FREIRE JUNIOR - COORIENTADOR
Nº do Conteudo: 17540
Catalogação: 24/05/2011 Liberação: 24/05/2011 Idioma(s): PORTUGUÊS - BRASIL
Tipo: TEXTO Subtipo: TESE
Natureza: PUBLICAÇÃO ACADÊMICA
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=17540&idi=1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=17540&idi=2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.17540
Resumo:
Título: METROLOGIA, NORMALIZAÇÃO E REGULAÇÃO DE NANOMATERIAIS NO BRASIL: PROPOSIÇÃO DE UM MODELO ANALÍTICO-PROSPECTIVO Autor: ANA RUSMERG GIMÉNEZ LEDESMA
FERNANDO LAZARO FREIRE JUNIOR - COORIENTADOR
Nº do Conteudo: 17540
Catalogação: 24/05/2011 Liberação: 24/05/2011 Idioma(s): PORTUGUÊS - BRASIL
Tipo: TEXTO Subtipo: TESE
Natureza: PUBLICAÇÃO ACADÊMICA
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=17540&idi=1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=17540&idi=2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.17540
Resumo:
O objetivo da dissertação é propor um modelo analítico-prospectivo como
ferramenta de apoio a processos decisórios em questões referentes à
metrologia, normalização e regulação de nanomateriais no Brasil, baseando-se
em referenciais internacionais e iniciativas em curso no mundo. No contexto do
desenvolvimento da nanotecnologia no Brasil, a motivação da pesquisa é
destacar a importância e os benefícios para o país da metrologia, normalização e
regulação de nanomateriais, na perspectiva de aplicação do modelo pelos
principais grupos de interesse comprometidos com o desenvolvimento
responsável desses novos materiais. A metodologia compreende: (i) pesquisa
bibliográfica e documental; (ii) levantamento de iniciativas referentes à
metrologia, normalização e regulação de nanotecnologia em nível internacional;
(iii) desenvolvimento de um modelo conceitual que integre as três funções –
metrologia, normalização e regulação de nanomateriais; e (iv) elaboração do
instrumento de pesquisa survey e da ferramenta para a construção de roadmaps
estratégicos. Destacam-se como resultados: (i) visão global dos referenciais
externos sobre metrologia, normalização e regulação de nanomateriais, em
geral, e de nanopartículas, em particular; (ii) o modelo analítico-prospectivo; e
(iii) o instrumento de pesquisa survey para a construção de indicadores
nacionais e a ferramenta de construção de roadmaps estratégicos das atividades
de metrologia, normalização e regulação de nanomateriais no Brasil.