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ETDs @PUC-Rio
Título: GRÁFICOS DE CONTROLE POR ATRIBUTOS COM AMOSTRAGEM DUPLA
Autor(es): AURELIA APARECIDA DE ARAUJO
Orientador (es) : EUGENIO KAHN EPPRECHT
Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: PPG EM ENGENHARIA DE PRODUÇÃO
Área: GERÊNCIA DE PRODUÇÃO
Banca: OSIRIS TURNES - UNB
LINDA LEE HO - USP
MAYSA SACRAMENTO DE MAGALHAES - IBGE
EUGENIO KAHN EPPRECHT - PUC-RIO
ROBERTO CINTRA MARTINS - PUC-RIO
Vocabulário: AMOSTRAGEM DUPLA
ATRIBUTO
CONTROLE ESTATISTICO DE PROCESSO
GRAFICO DE NP
GRAFICOS DE CONTROLE PARA ATRIBUTOS
Apresentação: 01/ABR/2005
Aceitação: 01/ABR/2005
Sistema de Biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de Chamada: 658.5 R696g