Logo PUC-Rio Logo Maxwell
ETDs @PUC-Rio
Título: METROLOGY IN STANDARDS, STANDARDS IN METROLOGY
Autor(es): PEDRO PAULO ALMEIDA SILVA
Orientador (es) : MAURICIO NOGUEIRA FROTA
Coorientador (es): JOSE AUGUSTO A K PINTO DE ABREU
Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: GRADUATE PROGRAM IN METROLOGY FOR INDUSTRIAL QUALITY
Área: METROLOGY FOR INDUSTRIAL QUALITY
Banca: MAURICIO NOGUEIRA FROTA - PUC-RIO
PIERRE OHAYON - UFRJ
DAVID S KUPFER - UFRJ
JOSE AUGUSTO A K PINTO DE ABREU - SEXTANTE
VANIA MARIA RODRIGUES HERMES DE ARAUJO - SBM
Vocabulário: DEMAND FOR STANDARDIZATION
LEVELS OF STANDARDIZATION
METROLOGY
STANDARDIZATION
STANDARDIZATION IN METROLOGY
TECHNICAL REGULATION
TECHNICAL STANDARD
Apresentação: 24/ABR/2003
Aceitação: 24/ABR/2003
Sistema de Biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de Chamada: 389.1 S586me