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ETDs @PUC-Rio
Título: DUAL BEAM MICROSCOPY AS A MODIFICATION AND CHARACTERIZATION TOOL OF ORGANIC SEMICONDUCTOR THIN FILMS AND FOR DEVICE FABRICATION
Autor(es): CRISTOL DE PAIVA GOUVEA
Orientador (es) : MARCO CREMONA
Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: GRADUATE PROGRAM IN PHYSICS
Área: CONDENSED MATTER PHYSICS
Banca: MARCO CREMONA - PUC-RIO
MARCELO EDUARDO HUGUENIN MAIA DA COSTA - PUC-RIO
DANIEL LORSCHEITTER BAPTISTA - UFRGS
DOUGLAS JOSE COUTINHO - UTFPR
MARCELO MARTINS SANT ANNA - UFRJ
Vocabulário: ELECTRON MICROSCOPY
MOBILITY
Apresentação: 11/JAN/2016
Aceitação: 11/NOV/2016
Sistema de Biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de Chamada: 530 G719m