Título: | MICROSCOPIA DE FEIXE DUPLO COMO FERRAMENTA PARA MODIFICAÇÃO E CARACTERIZAÇÃO DE FILMES FINOS DE SEMICONDUTORES ORGÂNICOS E FABRICAÇÃO DE DISPOSITIVOS | ||
Autor(es): |
CRISTOL DE PAIVA GOUVEA |
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Orientador (es) : |
MARCO CREMONA |
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Instituição: | PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO | ||
Programa: | PPG EM FÍSICA | ||
Área: | FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA | ||
Banca: |
MARCO CREMONA - PUC-RIO MARCELO EDUARDO HUGUENIN MAIA DA COSTA - PUC-RIO DANIEL LORSCHEITTER BAPTISTA - UFRGS DOUGLAS JOSE COUTINHO - UTFPR MARCELO MARTINS SANT ANNA - UFRJ |
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Vocabulário: | BOMBARDEAMENTO DISPOSITIVOS ORGANICOS FIB MICROSCOPIA ELETRONICA MOBILIDADE |
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Apresentação: | 11/JAN/2016 | ||
Aceitação: | 11/NOV/2016 | ||
Sistema de Biblioteca: | PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM | ||
Número de Chamada: | 530 G719m |