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Título: MICROSCOPIA DE FEIXE DUPLO COMO FERRAMENTA PARA MODIFICAÇÃO E CARACTERIZAÇÃO DE FILMES FINOS DE SEMICONDUTORES ORGÂNICOS E FABRICAÇÃO DE DISPOSITIVOS
Autor(es): CRISTOL DE PAIVA GOUVEA
Orientador (es) : MARCO CREMONA
Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: PPG EM FÍSICA
Área: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
Banca: MARCO CREMONA - PUC-RIO
MARCELO EDUARDO HUGUENIN MAIA DA COSTA - PUC-RIO
DANIEL LORSCHEITTER BAPTISTA - UFRGS
DOUGLAS JOSE COUTINHO - UTFPR
MARCELO MARTINS SANT ANNA - UFRJ
Vocabulário: BOMBARDEAMENTO
DISPOSITIVOS ORGANICOS
FIB
MICROSCOPIA ELETRONICA
MOBILIDADE
Apresentação: 11/JAN/2016
Aceitação: 11/NOV/2016
Sistema de Biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de Chamada: 530 G719m