Título: | INCORPORAÇÃO SUPERFICIAL DE NITROGÊNIO EM FILMES DLC TRATADOS EM PLASMA DE RADIO FREQÜÊNCIA | |||||||
Autor: |
VICENTE AGUSTIN ATOCHE ESPINOZA |
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Colaborador(es): |
FERNANDO LAZARO FREIRE JUNIOR - Orientador |
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Catalogação: | 09/SET/2003 | Língua(s): | PORTUGUÊS - BRASIL |
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Tipo: | TEXTO | Subtipo: | TESE | |||||
Notas: |
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Referência(s): |
[pt] https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/projetosEspeciais/ETDs/consultas/conteudo.php?strSecao=resultado&nrSeq=3884&idi=1 [en] https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/projetosEspeciais/ETDs/consultas/conteudo.php?strSecao=resultado&nrSeq=3884&idi=2 |
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DOI: | https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.3884 | |||||||
Resumo: | ||||||||
Filmes de carbono amorfo hidrogenados, (a - C: H) e
nitrogenados,) ( a - C: H(N) - depositados pela técnica
Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD) em
atmosferas de metano e metano-nitrogênio foram
submetidos a tratamento em plasmas de N2. A influência de
vários parâmetros foi investigada: a pressão da câmara,
tensão de autopolarização e tempo de exposição.
A taxa de erosão determinada por perfilometria. A taxa
aumenta com a tensão e tende a saturar-se para altas
pressões. A incorporação de nitrogênio foi medida
por reação nuclear. O resultado indica um decréscimo no
conteúdo de N com o aumento da tensão de autopolarização e
pode ser explicado pelo aumento da erosão química e física.
As ligações químicas foram analisadas por XPS e dois
ambiente podem ser identificados: um com átomos de N
rodeado por átomos de C e o outro com átomos N ligado ao H.
A modificação da rugosidade da superfície e coeficiente de
atrito foi caracterizada por Microscopia de Força
Atômica (AFM). A rugosidade da superfície é independente do
valores de autopolarização, quando o coeficiente de atrito
decresce com o aumento da tensão de autopolarização.
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