Título: | UMA METODOLOGIA PARA CARACTERIZAÇÃO DE SÍNTER DE MINÉRIO DE FERRO: MICROSCOPIA DIGITAL E ANÁLISE DE IMAGENS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Autor: |
JULIO CESAR ALVAREZ IGLESIAS |
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Colaborador(es): |
SIDNEI PACIORNIK - Orientador OTAVIO DA FONSECA MARTINS GOMES - Coorientador |
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Catalogação: | 13/FEV/2009 | Língua(s): | PORTUGUÊS - BRASIL |
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Tipo: | TEXTO | Subtipo: | TESE | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
Notas: |
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Referência(s): |
[pt] https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/projetosEspeciais/ETDs/consultas/conteudo.php?strSecao=resultado&nrSeq=13047&idi=1 [en] https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/projetosEspeciais/ETDs/consultas/conteudo.php?strSecao=resultado&nrSeq=13047&idi=2 |
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DOI: | https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.13047 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Resumo: | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Neste trabalho, propõe-se uma metodologia para a
caracterização de sínter de minério de ferro através de
microscopia digital e análise de imagens. O sínter é um
material multifásico, com macro e microestrutura
heterogêneas. Em geral, as principais fases são hematita,
magnetita, ferritos e silicatos, além de poros. Empregando
um microscópio óptico automatizado, imagens individuais em
alto aumento, cobrindo toda a área da seção transversal das
amostras, foram obtidas. Da mesma forma e cobrindo a mesma
área, foram obtidas imagens de mosaico em baixo aumento. Os
mosaicos fornecem uma visão qualitativa poderosa da amostra
inteira, e uma avaliação quantitativa das fases principais,
embora com resolução limitada. Uma comparação quantitativa
das frações de fase entre o mosaico e as imagens em alto
aumento foi realizada através de uma rotina automática de
processamento e análise de imagens, também desenvolvida
neste trabalho. Enquanto as fases mais finas, como os
silicatos, só foram bem discriminadas na melhor resolução
óptica empregada, fases preponderantes, como a hematita,
foram identificadas em todas as resoluções. Para hematita,
magnetita e ferritos, o maior erro relativo na fração de
área, entre as imagens obtidas com as lentes de 5 e 20X,
foi de 12 %, em 3 amostras distintas. Os resultados para os
silicatos foram menos exatos com um erro relativo até 44 %.
Uma comparação com resultados de difração de raios-x,
usando o método de Rietveld, também foi realizada. Estes
resultados indicam que a microscopia digital fornece um
método flexível de caracterização destes materiais,
permitindo combinar informação global qualitativa e semi-
quantitativa, com informação local quantitativa.
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