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Estatísticas > Conteúdo - Acesso

Número: 29615 Tipo de Acesso: PUBLIC
Título: DUAL BEAM MICROSCOPY AS A MODIFICATION AND CHARACTERIZATION TOOL OF ORGANIC SEMICONDUCTOR THIN FILMS AND FOR DEVICE FABRICATION
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Autor: CRISTOL DE PAIVA GOUVEA
Colaborador(es): MARCO CREMONA - Orientador
Curso: GRADUATE PROGRAM IN PHYSICS
Título Outorgado: DOCTOR IN SCIENCES-PHYSICAL
Área: CONDENSED MATTER PHYSICS
Catalogação: 07/04/2017 Defesa: 11/11/2016 Língua: PORTUGUESE - BRAZIL Países: 30 Visitas: 969 Partições: 1

  País  Visitas 
ANGOLA1
BRAZIL495
CANADA2
CHINA24
COLOMBIA2
CYPRUS1
CZECH REPUBLIC64
ESTONIA 1
FINLAND4
10 FRANCE6
11 GERMANY17
12 HONG KONG1
13 INDIA13
14 IRELAND1
15 KOREA, REPUBLIC OF1
16 MOZAMBIQUE13
17 NETHERLANDS2
18 PAKISTAN1
19 PANAMA2
20 PERU1
21 PHILIPPINES1
22 PORTUGAL9
23 RUSSIAN FEDERATION63
24 SINGAPORE1
25 SWEDEN2
26 SWITZERLAND3
27 UNIDENTIFIED COUNTRY2
28 UNITED ARAB EMIRATES 2
29 UNITED KINGDOM4
30 UNITED STATES230
  Total Geral969
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