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Estatísticas > Conteúdo - Acesso

Número: 23838 Tipo de Acesso: PÚBLICO
Título: SISTEMA INTERFEROMÉTRICO PRIMÁRIO PARA MEDIDAS DE COMPRIMENTO E APLICAÇÕES EM NANOMETROLOGIA
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Autor: IAKYRA BORRAKUENS COUCEIRO
Colaborador(es): JEAN PIERRE VON DER WEID - Orientador
Curso: PPG EM ENGENHARIA ELÉTRICA
Título Outorgado: DOUTOR EM CIÊNCIAS EM ENGENHARIA ELÉTRICA
Área: ELETROMAGNETISMO APLICADO
Catalogação: 02/01/2015 Defesa: 28/08/2013 Língua: PORTUGUÊS - BRASIL Países: 36 Visitas: 858 Partições: 1

  País  Visitas 
ALEMANHA39
ARABIA SAUDITA1
ARGELIA1
ARGENTINA13
AUSTRIA 1
AZERBAIJAO1
BRASIL401
CANADA10
CHINA52
10 COLOMBIA1
11 COREIA, REPUBLICA DA2
12 COSTA RICA9
13 ESTADOS UNIDOS191
14 FINLANDIA14
15 FRANCA17
16 GRA-BRETANHA4
17 GRECIA2
18 HOLANDA1
19 HONG KONG 1
20 INDIA2
21 IRAQUE1
22 JAPAO2
23 MEXICO1
24 MOCAMBIQUE6
25 NEPAL1
26 PANAMA1
27 PORTUGAL9
28 REPUBLICA CHECA11
29 ROMENIA2
30 RUSSIA32
31 SINGAPURA5
32 SUECIA1
33 SUICA3
34 UNIAO EUROPEIA18
35 URUGUAI1
36 VIETNA1
  Total Geral858
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