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Estatísticas > Conteúdo - Acesso

Número: 23838 Tipo de Acesso: PÚBLICO
Título: SISTEMA INTERFEROMÉTRICO PRIMÁRIO PARA MEDIDAS DE COMPRIMENTO E APLICAÇÕES EM NANOMETROLOGIA
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Autor: IAKYRA BORRAKUENS COUCEIRO
Colaborador(es): JEAN PIERRE VON DER WEID - Orientador
Curso: PPG EM ENGENHARIA ELÉTRICA
Título Outorgado: DOUTOR EM CIÊNCIAS EM ENGENHARIA ELÉTRICA
Área: ELETROMAGNETISMO APLICADO
Catalogação: 02/01/2015 Defesa: 28/08/2013 Língua: PORTUGUÊS - BRASIL Países: 30 Visitas: 809 Partições: 1

  País  Visitas 
ALEMANHA31
ARGELIA1
ARGENTINA13
AUSTRIA 1
BRASIL397
CANADA7
CHINA45
COLOMBIA1
COSTA RICA9
10 ESTADOS UNIDOS177
11 FINLANDIA14
12 FRANCA15
13 GRA-BRETANHA4
14 GRECIA2
15 HOLANDA1
16 HONG KONG 1
17 INDIA1
18 JAPAO2
19 MOCAMBIQUE6
20 PANAMA1
21 PORTUGAL9
22 REPUBLICA CHECA11
23 ROMENIA2
24 RUSSIA30
25 SINGAPURA4
26 SUECIA1
27 SUICA3
28 UNIAO EUROPEIA18
29 URUGUAI1
30 VIETNA1
  Total Geral809
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