[pt] AVALIAÇÃO DOS EFEITOS DA AMPLITUDE DE ONDULAÇÃO (RIPPLE) NA CALIBRAÇÃO DE PADRÕES DE ALTA TENSÃO EM CORRENTE CONTÍNUA

[en] EVALUATION OF THE EFFECTS OF RIPPLE AMPLITUDE IN THE CALIBRATION OF HIGH VOLTAGE STANDARDS IN DIRECT CURRENT

[pt] FERNANDA DUTRA ALVES

[pt] ALTA TENSAO EM CORRENTE CONTINUA

[pt] PROCESSAMENTO DE SINAL

[pt] PADROES

[pt] FATOR DE RIPPLE

[pt] AMPLITUDE DE RIPPLE

[en] HIGH VOLTAGE IN DIRECT CURRENT

[en] SIGNAL PROCESSING

[en] STANDARDS

[en] RIPPLE AMPLITUDE

[en] RIPPLE AMPLITUDE

[pt] Existe uma perspectiva crescente da utilização de alta tensão em corrente contínua (ATCC). Assim, com base em informações da literatura sobre ensaios elétricos em equipamentos para ATCC e em exigências quanto à confiabilidade de procedimentos metrológicos, nesta dissertação, propõe-se o monitoramento e análise de um parâmetro (ripple) de forma que se possa garantir a rastreabilidade de sistemas de medição de referência (SMR). Os SMRs permitem apenas uma análise quantitativa da tensão de calibração, sendo preciso avaliar e garantir que a incerteza não seja influenciada por ripples de até 3 por cento, mas torna-se necessário também fazer uma avaliação qualitativa. No caso de ensaios em ATCC, o uso de diferentes fontes e retificadores provoca ripple em diferentes níveis, influenciando na qualidade da tensão fornecida e possivelmente em outros parâmetros relevantes descritos na norma ABNT NBR IEC 60060-1:2013. Nesse contexto, o objetivo desta dissertação foi o aperfeiçoamento e validação, com o rascunho da norma IEC 61083-4, de um algoritmo de medição previamente desenvolvido em LabVIEW que se comunique com um multímetro de 8 (1 sobre 2) dígitos e estime todos os parâmetros normalizados. Estabeleceu-se, ainda, os procedimentos necessários para calibração em ATCC e a análise da influência do ripple a partir dos parâmetros definidos pela norma. Para validar a metodologia proposta nesta dissertação foram feitos ensaios com diferentes arranjos, cuja finalidade foi comparar, estatisticamente, as incertezas de medição da calibração com diferentes níveis de ripple no SMR. Finalmente, os resultados obtidos indicam que o ripple não influencia na calibração.

[en] There is a growing prospect of using high voltage in direct current (HVDC). Thus, based on information from the literature on dielectric tests in equipment for HVDC and requirements regarding the reliability of metrological procedures, this dissertation aims at monitoring and analyzing a specific parameter (ripple) in a way that can guarantee the traceability of reference systems. The reference systems allow only a quantitative analysis of the calibration voltage, being necessary to evaluate and ensure that the measurement uncertainty is not influenced by ripples of up to 3 percent, but it is also necessary to make a qualitative assessment. In the case of HVDC tests, the use of different power supplies and rectifiers causes ripple at different levels, influencing the quality of the supplied voltage and possibly other relevant parameters for the ABNT NBR IEC 60060-1:2013 standard. In this context, the objective of this dissertation was the improvement and validation, with the draft of the IEC 61083-4 standard, of a signal acquisition and processing algorithm developed in LabVIEW that communicates with an 8 (1 over 2) digit multimeter and estimates all the normalized parameters. It is also intended to establish the procedures introduced for HVDC calibration and an analysis of the ripple influence from the parameters defined by the standard. To validate the methodology proposed in this dissertation, tests were made with different arrangements, with universal and purely resistive dividers, and different ripple levels, in the laboratory, statistically comparing the calibration measurement uncertainties with different ripple levels in the traceability of reference systems. Finally, the results indicate that the ripple does not influence the calibration.

CARLOS ROBERTO HALL BARBOSA

CARLOS ROBERTO HALL BARBOSA

MARCELO GUIMARAES RODRIGUES

REGIS PINHEIRO LANDIM

2021-01-21

2020-11-26

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PORTUGUÊS

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https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.51301