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Coleção Digital
Título: CHARACTERIZATION OF OPTICAL WAVEGUIDES WITH LOW COHERENCE REFLECTOMETRY Autor: CARLOS HUMBERTO PROLA JUNIOR
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Colaborador(es):
JEAN PIERRE VON DER WEID - ADVISOR
Nº do Conteudo: 8877
Catalogação: 22/08/2006 Idioma(s): PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo: TEXT Subtipo: THESIS
Natureza: SCHOLARLY PUBLICATION
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8877@1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8877@2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8877
Resumo:
Título: CHARACTERIZATION OF OPTICAL WAVEGUIDES WITH LOW COHERENCE REFLECTOMETRY Autor: CARLOS HUMBERTO PROLA JUNIOR
Nº do Conteudo: 8877
Catalogação: 22/08/2006 Idioma(s): PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo: TEXT Subtipo: THESIS
Natureza: SCHOLARLY PUBLICATION
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8877@1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8877@2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8877
Resumo:
Optical Low Coherence Reflectometry (OLCR) is na important
non-destructive method for characterization of optical
waveguides. This work presents a study of the plurality of
solutions that appear with a new configuration, which
places the device out of both arms of the interferometer.
Two techniques were developed to solve this problem. One
of them is based on the correlation of measurements made
with the device in two different positions. The other
technique removes the ambiguity by modulating the phase of
the reflections from the interferometer.
Both techniques have eliminated the undesirable peaks
sucessfully, making the observation of the reflections
more easy. The resolution was not changed by the
modulation, and a high sensitivy was achieved.
A method for attenuation measurements, based on OLCR
systems, was presented. If the reflection coefficient is
well know, its use for measurements of optical waveguides,
such as modulators, could be very interesting.
| Descrição | Arquivo |
| COMPLETE |
PDF 
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