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A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
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Coleção Digital
Título: REFLECTOMETRIA ÓPTICA DE BAIXA COERÊNCIA Autor: JOSE AUGUSTO PEREIRA DA SILVA
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Colaborador(es):
JEAN PIERRE VON DER WEID - ORIENTADOR
Nº do Conteudo: 8655
Catalogação: 10/07/2006 Idioma(s): PORTUGUÊS - BRASIL
Tipo: TEXTO Subtipo: TESE
Natureza: PUBLICAÇÃO ACADÊMICA
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655&idi=1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655&idi=2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8655
Resumo:
Título: REFLECTOMETRIA ÓPTICA DE BAIXA COERÊNCIA Autor: JOSE AUGUSTO PEREIRA DA SILVA
Nº do Conteudo: 8655
Catalogação: 10/07/2006 Idioma(s): PORTUGUÊS - BRASIL
Tipo: TEXTO Subtipo: TESE
Natureza: PUBLICAÇÃO ACADÊMICA
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655&idi=1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655&idi=2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8655
Resumo:
Reflectometria óptica de baixa coerência tem se tornado
uma importante ferramenta para a caracterização de
componentes ópticos e optoeletrônicos integrados, cujas
dimensões são micrométricos. Este trabalho inclui os
princípios básicos de reflectometria, um estudo
aprofundado de reflectometria óptica de baixa coerência,
uma revisão das técnicas demonstradas na literatura
cientifíca e suas resoluções e, principalmente, uma nova
topologia na montagem experimental.
Esta nova topologia permite que as mediadas sejam feitas
de maneira mais simples e eficaz. A resolução obtida ficou
tão boa que permitiu a visualização dos modos de
propagação TE E TM na cavidade de um laser semicondutor.
| Descrição | Arquivo |
| NA ÍNTEGRA |
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