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Título: REFLECTOMETRIA COERENTE APLICADA AO ESTUDO DA INSTABILIDADE DE FREQÜÊNCIA E EFEITOS TÉRMICOS EM LASERS DE REALIMENTAÇÃO DISTRIBUÍDA
Autor: ADELA ALENCAR SAAVEDRA
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Colaborador(es):  JEAN PIERRE VON DER WEID - ORIENTADOR
Nº do Conteudo: 8633
Catalogação:  05/07/2006 Idioma(s):  PORTUGUÊS - BRASIL
Tipo:  TEXTO Subtipo:  TESE
Natureza:  PUBLICAÇÃO ACADÊMICA
Nota:  Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]:  https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8633@1
Referência [en]:  https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8633@2
Referência DOI:  https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8633

Resumo:
A reflectometria coerente tem se mostrado uma importante técnica para caracterização dos dispositivos ópticos e optoeletrônicos presentes nos sistemas de comunicações. Neste trabalho, a reflectometria coerente no domínio da freqüência foi utilizada no estudo das características dos lasers de semicondutor de realimentação distribuída. Foram realizadas medidas da resposta térmica do módulo laser, da linearidade da varredura em freqüência e da instabilidade de freqüência devido às reflexões da luz nas conexões do sistema. Conhecendo estas informações é possível saber algumas limitações da técnica. Todas as medidas de caracterização são feitas de formas simples e prática.

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