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Título: SPECTRAL CHARACTERIZATION OF GAIN IN DOPED FIBERS USING OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTOMETRY
Autor: MARCIA BETANIA COSTA E SILVA
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Colaborador(es):  JEAN PIERRE VON DER WEID - ADVISOR
Nº do Conteudo: 4671
Catalogação:  19/03/2004 Idioma(s):  PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo:  TEXT Subtipo:  THESIS
Natureza:  SCHOLARLY PUBLICATION
Nota:  Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]:  https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=4671@1
Referência [en]:  https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=4671@2
Referência DOI:  https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.4671

Resumo:
The use of doped fiber amplifiers, especially erbium doped- fiber amplifier (EDFA), has been permitted a great advance in optical communications development, and the use of some tools to characterize these devices has a great importance. The optical frequency domain reflectometry technique (OFDR) is very efficient because it is a non-destructive technique and allows the characterization of the gain through distributed gain measurements. In this work a tunable OFDR system was built permitting to perform measurements in different wavelengths, for characterization in EDFA working in C (1530-1565 nm) and L (1565-1610 nm) bands, as well as Thulium doped fibers operating in S (1450-1530 nm) band. Thanks to these measurements, some different pump schemes studies have been made and also different amplifier topologies to find a best device performance, always in a non-destructive way.

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