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Coleção Digital

Avançada


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Título: ANÁLISE CAUSAL DE DEFEITOS EM TI
Autor: CLAUDIO HENRIQUE MEDABER JAMBO
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Colaborador(es):  MARCANTONIO GIUSEPPE MARIA CARLO FABRA - ORIENTADOR
Nº do Conteudo: 35435
Catalogação:  19/10/2018 Idioma(s):  PORTUGUÊS - BRASIL
Tipo:  TEXTO Subtipo:  MONOGRAFIA DE ESPECIALIZAÇÃO
Natureza:  PUBLICAÇÃO ACADÊMICA
Nota:  Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]:  https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=35435@1
Referência DOI:  https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.35435

Resumo:
Em processos de desenvolvimento de software, principalmente em empresas com baixo nível de maturidade, é frequente a falta de um estudo mais aprofundado das causas dos defeitos detectados em artefatos. A qualidade do produto pode ser bastante prejudicada por defeitos recorrentes que poderiam ser evitados. Levando-se em consideração que as metodologias de desenvolvimento de software, os modelos de maturidade e a competitividade do mercado promovem uma busca constante pela qualidade, entender as causas dos defeitos nos artefatos torna-se uma atividade imprescindível para qualquer empresa comprometida com a melhoria contínua de seus processos. Este trabalho disserta, em linhas gerais, os métodos utilizados para a Análise Causal de Defeitos, tendo como base dados estatísticos e situações reais vividas por empresas que atuam na área de Tecnologia da Informação.

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