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Coleção Digital
Título: CARBON DOPING IN INAIAS EPITAXIAL LAYERS Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO Autor(es): MARIO LUIS PIRES GONCALVES RIBEIRO
Colaborador(es): PATRICIA LUSTOZA DE SOUZA - Orientador
Número do Conteúdo: 2651
Catalogação: 24/05/2002 Idioma(s): PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo: TEXT Subtipo: THESIS
Natureza: SCHOLARLY PUBLICATION
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=2651@1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=2651@2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.2651
Resumo:
Título: CARBON DOPING IN INAIAS EPITAXIAL LAYERS Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO Autor(es): MARIO LUIS PIRES GONCALVES RIBEIRO
Colaborador(es): PATRICIA LUSTOZA DE SOUZA - Orientador
Número do Conteúdo: 2651
Catalogação: 24/05/2002 Idioma(s): PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo: TEXT Subtipo: THESIS
Natureza: SCHOLARLY PUBLICATION
Nota: Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=2651@1
Referência [en]: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=2651@2
Referência DOI: https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.2651
Resumo:
The potential of using carbon as a p-type dopant for InAlAs
has already been recognized due to the achievable high hole
concentration [1,2]. However, high doping levels are
reached only for low growth teperatures (Tg below 600°C).
These temperatures produce layers with poor optical quality
as compared to those grown at higher temperatures, which
can be detrimental for optoeletronic device. In this work
we present crystal, transport and optical properties of
such layers grown at different temperatures.
We find that the lower Tg, the more efficient the carbon
incorporation and its electrical activity are. This result
indicates that carbon is incorporated in forms different
from a shallow acceptor, as well. Carbon can also be
incorporated as a shallow donor since it is an amphoteric
dopant. However, this alone does not explain the transport
results. The difference between the net free charge density
determined from capacitance measurements indicates that a
deep donor is also incorporated. Carbon most likely
participates in the deep donor formation since the inferred
deep donor concentration varies linearly with the carbon
atomic density measured by SIMS. On the other hand, non-
radiative deep levels are more efficiently incorporated as
Tg is reduced degrading the photoluminescence
characteristics. Such degration is independent of the
carbon doping. Therefore, one concludes that the decrease
in the photoluminescence efficiency cannot be related to
the presence of the deep donor mentioned in the previous
paragraph. To further probe the carbon electrical activity
and its effect on the optical properties of the layers, the
samples have been subjected to a heat-treatment. Annealing
the samples increases the hole concentration, but neither
affects the deep donor density nor improves the layers
optical quality. In order to use carbon doped InAlAs in
devices which simultaneously require good optical quality
and high electrical activity of the layers, one should
identify the deep donor involving carbon in order to try to
reduce its concentration or even eliminate it, consequently
improving the electrical activity of the layers. In such a
way the layers can be grown at higher temperatures,
adequate for an efficient photoluminescence emission.
Theoretical calculations are being carried out to
help with such identification. Another possibility is to
use other arsine sources which crack at lower temperatures.
Descrição | Arquivo |
COMPLETE |