XINFORMAÇÕES SOBRE DIREITOS AUTORAIS
As obras disponibilizadas nesta Biblioteca Digital foram publicadas sob expressa autorização dos respectivos autores, em conformidade com a Lei 9610/98.
A consulta aos textos, permitida por seus respectivos autores, é livre, bem como a impressão de trechos ou de um exemplar completo exclusivamente para uso próprio. Não são permitidas a impressão e a reprodução de obras completas com qualquer outra finalidade que não o uso próprio de quem imprime.
A reprodução de pequenos trechos, na forma de citações em trabalhos de terceiros que não o próprio autor do texto consultado,é permitida, na medida justificada para a compreeensão da citação e mediante a informação, junto à citação, do nome do autor do texto original, bem como da fonte da pesquisa.
A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
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Coleção Digital
Número: 47793
Nº da Certificação: 1721340/CA Data da Certificação: 08/11/2019
Título: PROBLEMS AND OBSTACLES TO INNOVATION BY SMALL AND MEDIUMSIZED ENTERPRISES IN THE MANUFACTURING INDUSTRY IN BRAZIL
Autor(es): LILIANA DENNIS MEJIA SANCHEZ
Orientador(es): MARIA FATIMA LUDOVICO DE ALMEIDA Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: GRADUATE PROGRAM IN METROLOGY FOR INDUSTRIAL QUALITY
Título Outorgado: MASTER IN METROLOGY
Área: METROLOGY FOR QUALITY AND INNOVATION
Banca: REINALDO CASTRO SOUZA - PUC-RIO , MARIA FATIMA LUDOVICO DE ALMEIDA - PUC-RIO , JOSE VITOR BOMTEMPO MARTINS - UFRJ
Vocabulário: BARRIERS TO INNOVATION, BRAZIL, LOGISTIC REGRESSION, METROLOGY, PINTEC, SME
E-Publisher: MAXWELL
Apresentação: 09/10/2019
Aceitação: 09/10/2019
Sistema de biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de chamada:
Patrocínio: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
CNPQ - CONSELHO NACIONAL DE DESENVOLVIMENTO CIENTÍFICO E TECNOLÓGICO
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Nº da Certificação: 1721340/CA Data da Certificação: 08/11/2019
Título: PROBLEMS AND OBSTACLES TO INNOVATION BY SMALL AND MEDIUMSIZED ENTERPRISES IN THE MANUFACTURING INDUSTRY IN BRAZIL
Autor(es): LILIANA DENNIS MEJIA SANCHEZ
Orientador(es): MARIA FATIMA LUDOVICO DE ALMEIDA Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: GRADUATE PROGRAM IN METROLOGY FOR INDUSTRIAL QUALITY
Título Outorgado: MASTER IN METROLOGY
Área: METROLOGY FOR QUALITY AND INNOVATION
Banca: REINALDO CASTRO SOUZA - PUC-RIO , MARIA FATIMA LUDOVICO DE ALMEIDA - PUC-RIO , JOSE VITOR BOMTEMPO MARTINS - UFRJ
Vocabulário: BARRIERS TO INNOVATION, BRAZIL, LOGISTIC REGRESSION, METROLOGY, PINTEC, SME
E-Publisher: MAXWELL
Apresentação: 09/10/2019
Aceitação: 09/10/2019
Sistema de biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
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