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As obras disponibilizadas nesta Biblioteca Digital foram publicadas sob expressa autorização dos respectivos autores, em conformidade com a Lei 9610/98.
A consulta aos textos, permitida por seus respectivos autores, é livre, bem como a impressão de trechos ou de um exemplar completo exclusivamente para uso próprio. Não são permitidas a impressão e a reprodução de obras completas com qualquer outra finalidade que não o uso próprio de quem imprime.
A reprodução de pequenos trechos, na forma de citações em trabalhos de terceiros que não o próprio autor do texto consultado,é permitida, na medida justificada para a compreeensão da citação e mediante a informação, junto à citação, do nome do autor do texto original, bem como da fonte da pesquisa.
A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
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Coleção Digital
Número: 23838
Nº da Certificação: 0821492/CA Data da Certificação: 18/11/2013
Título: INTERFEROMETRIC PRIMARY SYSTEM FOR LENGTH MEASUREMENTS AND APPLICATIONS IN NANOMETROLOGY
Autor(es): IAKYRA BORRAKUENS COUCEIRO
Orientador(es): JEAN PIERRE VON DER WEID Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: GRADUATE PROGRAM IN ELECTRICAL ENGINEERING
Título Outorgado: DOCTOR OF SCIENCE IN ELECTRICAL ENGINEERING
Área: APPLIED ELECTROMAGNETISM
Banca: JEAN PIERRE VON DER WEID - PUC-RIO , ANDERSON STEVENS L GOMES - UFPE , HANS PETER HENRIK GRIENEISEN - INMETRO , ROGERIO PASSY - MLS
Vocabulário: INTERFEROMETRY, METROLOGY, UNCERTAINTY OF OF MEASUREMENT
E-Publisher: MAXWELL
Apresentação: 28/08/2013
Aceitação: 28/08/2013
Sistema de biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de chamada: 621.3 C853
Patrocínio: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
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Nº da Certificação: 0821492/CA Data da Certificação: 18/11/2013
Título: INTERFEROMETRIC PRIMARY SYSTEM FOR LENGTH MEASUREMENTS AND APPLICATIONS IN NANOMETROLOGY
Autor(es): IAKYRA BORRAKUENS COUCEIRO
Orientador(es): JEAN PIERRE VON DER WEID Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: GRADUATE PROGRAM IN ELECTRICAL ENGINEERING
Título Outorgado: DOCTOR OF SCIENCE IN ELECTRICAL ENGINEERING
Área: APPLIED ELECTROMAGNETISM
Banca: JEAN PIERRE VON DER WEID - PUC-RIO , ANDERSON STEVENS L GOMES - UFPE , HANS PETER HENRIK GRIENEISEN - INMETRO , ROGERIO PASSY - MLS
Vocabulário: INTERFEROMETRY, METROLOGY, UNCERTAINTY OF OF MEASUREMENT
E-Publisher: MAXWELL
Apresentação: 28/08/2013
Aceitação: 28/08/2013
Sistema de biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
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