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Título: EFFECTS OF NON-LINEARITIES OF FIELD-EFFECT TRANSISTORS IN MICROWAVE AMPLIFIERS
Autor: JOAO TAVARES PINHO
Instituição: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO - PUC-RIO
Colaborador(es):  CHARLES FREDERIC POLZIN - ADVISOR
Nº do Conteudo: 9434
Catalogação:  05/01/2007 Idioma(s):  PORTUGUESE - BRAZIL
Tipo:  TEXT Subtipo:  THESIS
Natureza:  SCHOLARLY PUBLICATION
Nota:  Todos os dados constantes dos documentos são de inteira responsabilidade de seus autores. Os dados utilizados nas descrições dos documentos estão em conformidade com os sistemas da administração da PUC-Rio.
Referência [pt]:  https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=9434@1
Referência [en]:  https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=9434@2
Referência DOI:  https://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.9434

Resumo:
This work deals with the effects of non-linear ities of field-effect transistors used in microwave amplifiers. To do so, the transistor is modeled by a non-linear equivalent circuit, with its components determined through the measurement of its scattering parameters, in the range of 3 GHz to 9GHz, and with the aid of a circuit optimization program and another for curve fitting. The method of analysis used is the Volterra series expansion, for which a computer program was developed, permitting the determination of the transducer gains and output powers in the fundamental frequency, and in the third-order intermodulation product, as well as the 1 dB compression point, the third-order intermodulation distortion ratio, and the third-order intercept point. This program also allows for the verification of the influence of out-of-band terminating impedances on the intermodulation distortion characteristics. Through this analysis it was possible to verify that the out-of-band terminations have little or no influence on the intermodulation distortion characteristics, with the exception of the terminations in the difference frequency, (difference frequency = frequency 2 - frequency 1), for which it was found a decrease of up to 8 dB in the third- order intermodulation product level, for the appropriate choice of these impedances. These results, however, cannot be said to represent the real behavior of the FET since the model used did not account for the internal matching of the device. Also, due to the fact that the transistor was damaged during the intermodulation measurements, such results could not be verified experimentally.

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