XINFORMAÇÕES SOBRE DIREITOS AUTORAIS
As obras disponibilizadas nesta Biblioteca Digital foram publicadas sob expressa autorização dos respectivos autores, em conformidade com a Lei 9610/98.
A consulta aos textos, permitida por seus respectivos autores, é livre, bem como a impressão de trechos ou de um exemplar completo exclusivamente para uso próprio. Não são permitidas a impressão e a reprodução de obras completas com qualquer outra finalidade que não o uso próprio de quem imprime.
A reprodução de pequenos trechos, na forma de citações em trabalhos de terceiros que não o próprio autor do texto consultado,é permitida, na medida justificada para a compreeensão da citação e mediante a informação, junto à citação, do nome do autor do texto original, bem como da fonte da pesquisa.
A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
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Coleção Digital
Número: 35147
Nº da Certificação: 1222289/CA Data da Certificação: 11/12/2013
Título: MONTAGEM DE UM ESPECTRÔMETRO SPR PARA A CARACTERIZAÇÃO DE FILMES FINOS ORGÂNICOS
Autor(es): JOHN EDICSON HERNÁNDEZ SÁNCHEZ
Coorientador(es): OMAR PANDOLI, Orientador(es): TOMMASO DEL ROSSO Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: PPG EM FÍSICA
Título Outorgado: MESTRE EM FÍSICA
Área de Concentração: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
Banca: MARCO CREMONA - PUC-RIO , TOMMASO DEL ROSSO - PUC-RIO , DMITRIEV VICTOR - UFPA
Vocabulário: CONTROLE NAO DESTRUCTIVO, FILMES FINOS, INDICE DE REFRACAO, INTERFACE METAL ORGANICO, POLARITONES SUPERFICIAIS PLASMONICOS SPP, SENSORES OPTICOS
E-Publisher: MAXWELL
Apresentação: 06/12/2013
Aceitação: 06/12/2013
Sistema de biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de chamada: 530 H557a
Patrocínio: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
CAPES - COORDENAÇÃO DE APERFEIÇOAMENTO DO PESSOAL DE ENSINO SUPERIOR
PROSUP - PROGRAMA DE SUPORTE À PÓS-GRADUAÇÃO DE INSTS. DE ENSINO
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Nº da Certificação: 1222289/CA Data da Certificação: 11/12/2013
Título: MONTAGEM DE UM ESPECTRÔMETRO SPR PARA A CARACTERIZAÇÃO DE FILMES FINOS ORGÂNICOS
Autor(es): JOHN EDICSON HERNÁNDEZ SÁNCHEZ
Coorientador(es): OMAR PANDOLI, Orientador(es): TOMMASO DEL ROSSO Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: PPG EM FÍSICA
Título Outorgado: MESTRE EM FÍSICA
Área de Concentração: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
Banca: MARCO CREMONA - PUC-RIO , TOMMASO DEL ROSSO - PUC-RIO , DMITRIEV VICTOR - UFPA
Vocabulário: CONTROLE NAO DESTRUCTIVO, FILMES FINOS, INDICE DE REFRACAO, INTERFACE METAL ORGANICO, POLARITONES SUPERFICIAIS PLASMONICOS SPP, SENSORES OPTICOS
E-Publisher: MAXWELL
Apresentação: 06/12/2013
Aceitação: 06/12/2013
Sistema de biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de chamada: 530 H557a
Patrocínio: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
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